臺(tái)式掃描電鏡與傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡相比具有體積小、操作簡(jiǎn)便、價(jià)格便宜、快速抽真空等優(yōu)勢(shì)，分辨力能滿(mǎn)足多數(shù)材料的顯微觀察，填補(bǔ)了光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡之間的分辨率空白區(qū)域，可廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、生物醫(yī)學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。

臺(tái)式掃描電鏡是一種電子顯微鏡，該儀器具有超高分辨率，可以執(zhí)行二次電子圖像，反射電子圖像觀察以及各種固體樣品表面形貌的圖像處理。臺(tái)式掃描電鏡利用二次電子成像原理，通過(guò)在平板或未涂層的基礎(chǔ)上以納米級(jí)觀察生物樣品來(lái)獲得真實(shí)的原始立體樣品，廣泛地應(yīng)用于金屬材料（鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工）和非金屬材料（化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維）等檢驗(yàn)和研究。

臺(tái)式掃描電鏡在材料科學(xué)、金屬材料、陶瓷材料半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域，進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線(xiàn)掃描分布測(cè)量，晶體/晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測(cè)量。

sem掃描電鏡具有高分辨率，景深大，立體感強(qiáng)，放大倍數(shù)可以調(diào)整等優(yōu)點(diǎn)，因此廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體，無(wú)機(jī)非金屬材料和器件的檢測(cè)。它為人們提供了研究納米尺度物質(zhì)結(jié)構(gòu)的有力手段，已廣泛應(yīng)用于許多學(xué)科領(lǐng)域，例如材料科學(xué)和質(zhì)量過(guò)程控制。

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