掃描電鏡是一種高分辨率顯微技術，可以通過掃描樣品表面并探測樣品表面反射、散射的電子信號來獲得樣品表面形貌、結構和組成等信息。SEM掃描電鏡可以通過改變電子束的聚焦和放大倍數(shù)來調節(jié)圖像的放大程度，下面是掃描電鏡放大倍數(shù)計算方式的簡要介紹。

SEM掃描電鏡圖像的放大倍數(shù)通常分為實際放大倍數(shù)和顯示放大倍數(shù)兩種。

實際放大倍數(shù) = 探測器到樣品距離 / 樣品上所顯示的實際長度

探測器到樣品距離指的是電子槍和樣品之間的距離，這個距離可以由掃描電鏡中的聚焦系統(tǒng)調節(jié)，探測器到樣品距離越小，則實際放大倍數(shù)越大。

樣品上所顯示的實際長度可以由樣品尺寸進行測量得到，例如SEM掃描電鏡圖像中一條線的長度可以通過顯微鏡測量尺寸得到。

顯示放大倍數(shù)是掃描電鏡圖像在顯示器上顯示的放大倍數(shù)，通常是實際放大倍數(shù)的一個固定倍數(shù)，可以由SEM掃描電鏡中的圖像處理系統(tǒng)進行調節(jié)。例如，如果實際放大倍數(shù)是1000，顯示放大倍數(shù)是2000，則掃描電鏡圖像在顯示器上顯示的放大倍數(shù)是2000。

需要注意的是，SEM掃描電鏡中的放大倍數(shù)是指圖像的線性放大倍數(shù)，即圖像中一個單位長度在樣品上所對應的長度，而不是面積放大倍數(shù)或體積放大倍數(shù)。因此，在使用掃描電鏡進行圖像分析和測量時，需要了解和計算實際放大倍數(shù)和顯示放大倍數(shù)。